Dektak XTL ™ Il profilometro basato sulla sonda può ospitare campioni fino a 350mm x 350mm, portando Dektak alla produzione di grandi wafer e pannelli ® La ripetibilità delle leggende. Dektak XTL presenta un design di isolamento delle vibrazioni dell'aria e una postazione di lavoro completamente chiusa, con porte ad incastro facili da usare, che lo rendono una scelta ideale per gli ambienti di produzione più esigenti di oggi. La sua architettura a doppia fotocamera migliora le capacità di percezione spaziale e il suo alto livello di automazione massimizza la produttività dei test.

Il miglior software di automazione e analisi del settore

Le funzionalità software avanzate rendono Dektak XTL il profilometro basato sulla sonda più potente e facile da usare. Il sistema utilizza il software Vision64 per ottenere numerosi siti di misura, imaging 3D e analisi delle funzionalità altamente personalizzate attraverso centinaia di strumenti di analisi integrati. Il software Vision64 può anche misurare forme, come il raggio di curvatura. Il riconoscimento del modello può ridurre notevolmente gli errori dell'operatore e migliorare l'accuratezza della posizione di misura. I pacchetti software integrati combinano la raccolta e l'analisi dei dati con flussi di lavoro intuitivi.

****Tecnologia della sonda

Dektak XTL si basa su oltre 50 anni di esperienza in profilatometri basati su sonde e applicazioni personalizzate per impianti di produzione per soddisfare le severe roadmap del settore di oggi e di domani. La fase di campionamento XY di codifica ad alta precisione 300 mm fornisce ai produttori strumenti affidabili che soddisfano i severi requisiti di ricerca metrologica e sviluppo. Il doppio controllo della fotocamera di Dektak e la fotocamera a doppio campo zoom ad alta definizione forniscono una migliore percezione spaziale. Il posizionamento dei clic in video in tempo reale consente agli operatori di spostare rapidamente i campioni nella posizione corretta per una facile configurazione di misura e una programmazione automatizzata. Le grandi porte ad incastro del sistema forniscono un accesso sicuro e conveniente per il carico/scarico del campione.

Altre caratteristiche hardware includono:

• L'architettura ad arco singolo e il sistema integrato di isolamento delle vibrazioni raggiungono prestazioni superiori nel settore
  
• Sostituire rapidamente le sonde autoallineanti
• Fase di campionamento XY di codifica ad alta precisione per una raccolta automatica dei dati più rapida

• N-Lite ha bassa potenza e adotta la tecnologia soft touch, con un intervallo di misura di 1mm, che può essere utilizzato per misurare contemporaneamente campioni sia di precisione che di alta gamma verticale.